来源：经济日报
《自然-通讯》本周发表一篇论文，描述了一种针对胎盘植入谱系（placentaaccretaspectrum，PAS）疾病的无创早期诊断技术。这种疾病会导致孕产妇在分娩中死亡，研究结果或能辅助该病的早诊断。
胎盘植入谱系疾病包括侵入性胎盘、植入性胎盘、穿透性胎盘，是指妊娠期间胎盘过度侵入子宫肌层，且在分娩时无法脱落。这会造成严重出血，而严重出血有时会导致孕产妇死亡。目前诊断该疾病的方法虽然有效，但有时不够准确，抑或是在资源匮乏的地区难以获得。
美国加州大学洛杉矶分校的曾宪荣、朱亚珍和同事对之前开发的NanoVelcro芯片进行了优化，该芯片包含很细的硅纳米线，外部涂有能检测循环滋养层细胞（组成胎盘的细胞）的抗体。这些细胞会在胎盘发育过程中单个或聚集脱落到母体血液循环中，细胞数量的增加可能提示PAS。作者对位孕妇进行了血检，有些孕妇被诊断患有PAS，有些被诊断为胎盘前置（胎盘覆盖宫颈内口），有些胎盘形成正常。他们发现，PAS组的单个和聚集循环滋养层细胞计数比其他两个组更高。他们还发现，单个和聚集循环滋养层细胞的数量有助于在妊娠早期将PAS从前置胎盘和正常胎盘中区分出来。
作者指出，仍需利用更大样本开展进一步研究，但这种诊断技术有望在将来补充现有技术，提高妊娠早期诊断胎盘植入谱系疾病的准确性。（经济日报-中国经济网记者佘惠敏）